可程式 高低溫濕熱老化箱

可程式 高低溫濕熱老化箱

特點(diǎn)：

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過U盤拷貝，電腦無(wú)需安裝任何軟可直接打開試驗(yàn)曲線或Excel文檔。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)周全: 水電分離設(shè)計(jì)，溫度均勻性。同溫層設(shè)計(jì)，±1.0℃，防止試驗(yàn)頂部滴水。報(bào)警履歷顯示以及故障解除方法。

可程式 高低溫濕熱老化箱

型號(hào)：TEC-800PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）
6.濕度波動(dòng)度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法