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快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環設備

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環設備是專為電子芯片設計的溫度循環測試設備，專注模擬電子芯片在實際應用中面臨的溫度交替環境，通過精準控溫與循環測試，驗證芯片耐受溫度變化的能力，為電子芯片質量檢測與可靠性保障提供專業解決方案。

產品型號：TEB-408PF
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-09-29
訪問量：455

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詳細介紹

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環設備

一、產品詳情

本快速溫變試驗箱是專為電子芯片設計的溫度循環測試設備，專注模擬電子芯片在實際應用中面臨的溫度交替環境，通過精準控溫與循環測試，驗證芯片耐受溫度變化的能力，為電子芯片質量檢測與可靠性保障提供專業解決方案。

二、用途

用于檢測電子芯片在反復高低溫循環過程中的性能穩定性、電路導通性及使用壽命，提前暴露芯片因溫度變化可能出現的脫焊、性能衰減等問題，篩選不合格芯片，確保芯片在終端設備中，如智能設備、工業控制裝置內，能穩定運行。

快速溫變試驗箱電子芯片溫度循環設備

三、技術參數

溫度范圍 - 50℃~180℃，適配不同類型電子芯片測試；溫變速率 3℃/min~20℃/min 可調，滿足多樣測試需求；工作室容積 30L~300L，適配不同尺寸芯片及批量測試；控溫精度 ±0.3℃，溫度均勻度 ±1.5℃，保障數據精準；配備 10 英寸觸控屏，支持 100 組程序存儲與調用。

四、應用場景

適用于電子芯片生產企業的出廠質檢，確保每顆芯片達標；滿足芯片研發實驗室的性能測試，助力優化芯片設計；適配第三方檢測機構的認證測試，提供合規數據；也用于終端設備廠商的芯片選型測試，保障整機質量。

五、技術特點

采用雙級壓縮制冷系統，實現快速降溫與低溫穩定；搭載自適應 PID 控溫，避免溫度過沖；內置芯片專用夾具，確保測試過程中芯片固定穩固；具備數據導出功能，支持測試報告自動生成；配備過流、超壓保護，保障設備安全。

六、應用領域

覆蓋消費電子領域，如手機、平板芯片測試；適用于工業電子領域，如工控機、傳感器芯片測試；服務汽車電子領域，如車載芯片測試；也用于航空航天電子領域，滿足高可靠性芯片測試需求。

七、工作原理

制冷系統通過制冷劑循環降低工作室溫度，加熱系統通過電熱管升溫，風道系統實現溫度均勻分布。傳感器實時采集溫度數據，反饋至控制系統，控制系統調節制冷與加熱輸出，使溫度按預設曲線循環變化，完成芯片測試。

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