冷熱沖擊試驗(yàn)箱 芯片可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 芯片可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備

一、 產(chǎn)品概述

冷熱沖擊試驗(yàn)箱，又名溫度沖擊試驗(yàn)箱或熱冷沖擊試驗(yàn)箱，是用于測(cè)試材料、元器件（尤其是芯片、集成電路）、電子產(chǎn)品及工業(yè)成品在瞬間承受高溫度和極低溫度連續(xù)變化的環(huán)境下的耐受能力。它通過(guò)模擬嚴(yán)苛的溫度驟變條件，在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)測(cè)試品的物理性能和電氣性能變化，是評(píng)估產(chǎn)品可靠性與耐久性的關(guān)鍵環(huán)境測(cè)試設(shè)備。

二、 基本結(jié)構(gòu)

該設(shè)備主要由以下幾個(gè)核心部分構(gòu)成：

1. 高溫箱體：內(nèi)置加熱器，用于產(chǎn)生并維持一個(gè)穩(wěn)定的高溫環(huán)境（如+150°C至+200°C）。

2. 低溫箱體：內(nèi)置壓縮機(jī)制冷系統(tǒng)，用于產(chǎn)生并維持一個(gè)穩(wěn)定的低溫環(huán)境（如-65°C至-10°C）。

3. 測(cè)試區(qū)：放置待測(cè)樣品的區(qū)域。

4. 提籃（或風(fēng)門切換）系統(tǒng)：這是實(shí)現(xiàn)沖擊的關(guān)鍵機(jī)構(gòu)。測(cè)試品放置于提籃中，通過(guò)提籃在高溫箱和低溫箱之間的快速移動(dòng)，或通過(guò)切換風(fēng)門將高溫/低溫氣流快速導(dǎo)向測(cè)試區(qū)，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。

5. 智能控制系統(tǒng)：核心控制單元，通常采用PLC和彩色觸摸屏，用于設(shè)定溫度、時(shí)間、循環(huán)次數(shù)及監(jiān)控設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 芯片可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備

其核心原理是在最短時(shí)間內(nèi)，使測(cè)試品承受高溫和低溫的反復(fù)切換。以兩箱式提籃結(jié)構(gòu)為例：測(cè)試開(kāi)始時(shí)，提籃位于高溫箱，測(cè)試品在高溫下保持一段時(shí)間以達(dá)到熱飽和；隨后，提籃在數(shù)秒內(nèi)迅速移動(dòng)至低溫箱，測(cè)試品瞬間暴露在極低溫環(huán)境中并保持一段時(shí)間；如此循環(huán)往復(fù)，構(gòu)成嚴(yán)酷的溫度沖擊測(cè)試。

四、 主要功能及特點(diǎn)

• 高效沖擊：能在極短時(shí)間（通常10秒內(nèi)）完成高低溫轉(zhuǎn)換，溫度恢復(fù)時(shí)間快。

• 精準(zhǔn)溫控：采用高精度PID控制，確保高溫區(qū)、低溫區(qū)及測(cè)試區(qū)的溫度精確、穩(wěn)定。

• 可靠安全：具備完善的安全保護(hù)系統(tǒng)，如超溫保護(hù)、風(fēng)機(jī)過(guò)載保護(hù)、漏電保護(hù)等，確保設(shè)備與操作人員安全。

• 智能便捷：用戶可編程控制，自動(dòng)運(yùn)行設(shè)定好的測(cè)試周期，并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)與曲線。

• 高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)：內(nèi)外箱體采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼，保溫層加厚，確保長(zhǎng)期運(yùn)行的機(jī)械強(qiáng)度和隔熱性能。

五、 技術(shù)特點(diǎn)（細(xì)化）

• 寬溫范圍：提供從-65°C到+200°C甚至更寬的極限溫度范圍選擇。

• 高轉(zhuǎn)換速率：提籃移動(dòng)式轉(zhuǎn)換時(shí)間通常小于10秒，風(fēng)門切換式也可實(shí)現(xiàn)快速的溫度劇變。

• 可視化管理：大尺寸觸摸屏實(shí)時(shí)顯示運(yùn)行狀態(tài)、設(shè)定曲線、故障信息等。

六、 應(yīng)用場(chǎng)景與技術(shù)參數(shù)

• 應(yīng)用場(chǎng)景：

• 芯片與封裝測(cè)試：檢驗(yàn)芯片、PCB、BGA封裝等因材料熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致的焊接開(kāi)裂、性能失效。

• 汽車電子：測(cè)試發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元、傳感器等在寒冷啟動(dòng)與運(yùn)行發(fā)熱交替環(huán)境下的可靠性。

• 航空航天：驗(yàn)證機(jī)載電子設(shè)備在高速飛行時(shí)經(jīng)歷的高空低溫和地面高溫的沖擊。

技術(shù)參數(shù)：

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60°C ~ +200°C；低溫區(qū)：-65°C ~ -10°C

• 測(cè)試區(qū)沖擊范圍：-55°C ~ +125°C（或根據(jù)配置）

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間：＜10秒（提籃移動(dòng)式）

• 溫度波動(dòng)度：≤±0.5°C

• 溫度偏差：≤±2.0°C

• 內(nèi)箱尺寸：可根據(jù)需求定制（如 50L / 80L / 100L）

七、 應(yīng)用領(lǐng)域

冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于所有對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量有嚴(yán)苛要求的行業(yè)，主要包括：半導(dǎo)體與集成電路、消費(fèi)電子、通信設(shè)備、汽車制造、航空航天、科研機(jī)構(gòu)及質(zhì)量檢測(cè)中心等，是貫穿產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量驗(yàn)證和生產(chǎn)控制全流程可靠性測(cè)試工具。