自產(chǎn)FPC折彎試驗(yàn)機(jī)定制款-加罩子防塵款

自產(chǎn)FPC折彎試驗(yàn)機(jī)定制款-加罩子防塵款

產(chǎn)品概述
本產(chǎn)品是一款專為柔性電路板（FPC）及柔性材料設(shè)計(jì)的耐用性測(cè)試設(shè)備——FPC折彎試驗(yàn)機(jī)。此定制款特別增加了高透明度防護(hù)罩，旨在為高精度測(cè)試提供無(wú)塵、安全的實(shí)驗(yàn)環(huán)境，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性，是電子元器件、連接器及消費(fèi)電子產(chǎn)品制造商的理想質(zhì)量控制工具。

產(chǎn)品用途
該設(shè)備主要用于模擬FPC排線在實(shí)際產(chǎn)品安裝、使用過(guò)程中的反復(fù)彎折情況。通過(guò)設(shè)定不同的角度、速度和次數(shù)，來(lái)評(píng)估FPC的耐彎曲疲勞壽命、電阻值變化率以及觀察其結(jié)構(gòu)是否出現(xiàn)斷裂、起泡、剝落等失效現(xiàn)象，從而為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)與材料選擇提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

自產(chǎn)FPC折彎試驗(yàn)機(jī)定制款-加罩子防塵款

技術(shù)參數(shù)

• 測(cè)試工位：標(biāo)準(zhǔn)1工位（可定制多工位）

• 折彎角度：0° ~ 180° 可調(diào)（軟件設(shè)定，精度高）

• 測(cè)試速度：10 ~ 120次/分鐘可調(diào)

• 計(jì)數(shù)容量：0 ~ 999,999次（可預(yù)設(shè)，到達(dá)后自動(dòng)停止）

• 驅(qū)動(dòng)方式：精密伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)，運(yùn)行平穩(wěn)，噪音低

• 控制系統(tǒng)：觸摸屏人機(jī)界面，操作直觀簡(jiǎn)便

• 防護(hù)裝置：全透明亞克力防塵罩，有效隔離外界粉塵干擾

工作原理
設(shè)備核心原理為曲柄滑塊機(jī)構(gòu)。伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)曲柄做圓周運(yùn)動(dòng)，通過(guò)連桿轉(zhuǎn)化為滑塊的直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)。測(cè)試FPC樣品被固定在滑塊和固定端之間，隨著滑塊的往復(fù)運(yùn)動(dòng)，F(xiàn)PC在預(yù)設(shè)的彎折半徑治具上被反復(fù)彎折。設(shè)備內(nèi)置的高精度計(jì)數(shù)器自動(dòng)記錄彎折次數(shù)，并在達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)自動(dòng)停機(jī)，或監(jiān)測(cè)到樣品電路斷開(kāi)（需搭配導(dǎo)通監(jiān)測(cè)儀）時(shí)立即停止。

滿足標(biāo)準(zhǔn)
本設(shè)備設(shè)計(jì)符合多項(xiàng)國(guó)內(nèi)外相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，包括但不限于：

• 國(guó)標(biāo)GB/T 及相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

• 日本標(biāo)準(zhǔn)：JIS C5016

• 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)：ASTM F等（具體依據(jù)客戶測(cè)試要求）

應(yīng)用領(lǐng)域
此款防塵型FPC折彎試驗(yàn)機(jī)廣泛應(yīng)用于需要對(duì)柔性電路進(jìn)行可靠性驗(yàn)證的各類行業(yè)：

• 消費(fèi)電子：智能手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦的屏幕排線、鉸鏈FPC。

• 可穿戴設(shè)備：智能手表、手環(huán)、VR/AR眼鏡內(nèi)部的柔性連接器。

• 汽車電子：車載顯示屏、傳感器內(nèi)部的FPC線路。

• 醫(yī)療設(shè)備：各類便攜式、可彎曲醫(yī)療設(shè)備中的精密線路。

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 主體框架：采用高強(qiáng)度鋁合金型材結(jié)合優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，確保長(zhǎng)期運(yùn)行無(wú)變形。

• 防護(hù)罩：定制加裝的全透明亞克力罩子，密封性好，可視性強(qiáng)，便于實(shí)時(shí)觀察測(cè)試過(guò)程，同時(shí)有效防止灰塵落入影響測(cè)試品或設(shè)備傳動(dòng)機(jī)構(gòu)。

• 內(nèi)部夾具：優(yōu)質(zhì)黃銅或防靜電材料制成，確保夾持穩(wěn)固且不損傷測(cè)試樣品。